德國EPK涂層測厚儀涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100
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德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點: MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能; - 所有型號均可配所有探頭 - 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機 - 可使用一片或二片標準箔校準
功能
型號
1100
2100
3100
4100
MINITEST 存儲的數據量
應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)
1
10
99
每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計,可設寬容度極限值)
-
可用各自的日期和時間標識特性的組數
500
數據總量
10000
MINITEST統計計算功能
讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar
√
讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
組統計值六種x,s,n,max,min,kvar
組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據
分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值
顯示并打印測量值、打印的日期和時間
其他功能
透過涂層進行校準(CTC)
在粗糙表面上作平均零校準
利用計算機進行基礎校準
補償一個常數(Offset)
外設的讀值傳輸存儲功能
保護并鎖定校準設置
更換電池是存儲數值
設置極限值
公英制轉換
連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別*大*小值
√>
連續測量模式中測量穩定后顯示讀數
浮點和定點方式數據傳送
組內單值延遲顯示
連續測量模式中顯示*小值
可選探頭參數(探頭圖示) 所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇*適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。 F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
探頭
量程
低端 分辨率
誤差
*小曲率 半徑(凸/凹)
*小測量 區域直徑
*小基 體厚度
探頭尺寸
F05
0-500μm
0.1μm
±(1%±0.7μm)
1/5mm
3mm
0.2mm
φ15x62mm
F1.6
0-1600μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
F1.6/90
平面/6mm
φ8x170mm
F3
0-3000μm
0.2μm
F10
0-10mm
5μm
±(1%±10μm)
5/16mm
20mm
1mm
φ25x46mm
F20
0-20mm
10μm
10/30mm
40mm
2mm
φ40x66mm
F50
0-50mm
±(3%±50μm)
50/200mm
300mm
φ45x70mm
N02
0-200μm
±(1%±0.5μm)
1/10mm
50μm
φ16x70mm
N.08Cr
0-80μm
2.5mm
100μm
N1.6
N1.6/90
平面/10mm
φ13x170mm
N10
±(1%±25μm)
25/100mm
50mm
φ60x50mm
N20
±(1%±50μm)
70mm
φ65x75mm
N100
0-100mm
±(1%±0.3mm)
100mm/平面
200mm
φ126x155mm
CN02
10-200μm
平面
7mm
無限制
φ17x80mm
FN1.6
F:0.5mm N:50μm
FN1.6P
30mm
φ21x89mm
FN2
0-2000μm
注:
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。 N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。